可拉伸电子封装用局部变刚度可拉伸基板上的倒装芯片工艺

ty10086 提交于 周四, 08/26/2021 - 12:52
文章英文标题
Flip Chip Process on the Local Stiffness-variant Stretchable Substrate for Stretchable Electronic Packages
正文
可拉伸电子封装用局部变刚度可拉伸基板的翻转芯片工艺:可拉伸基板;PDMS;FPCB;翻转芯片;接触电阻;Si芯片采用不同的各向异性导电胶( ACAs )在由聚二甲基硅氧烷( PDMS )和柔性印制电路板( FPCB )组成的局部变刚度可拉伸基板上的翻转芯片。对含有不同导电粒子的ACAs处理的倒装片接头的平均接触电阻进行了评估和比较。采用ACA与金包复聚合物球作为导电粒子的倒装芯片结合的试样,其接触电阻为$43.2m{\\Omega}$。用含有SnBi钎料颗粒的ACA进行倒装加工的Si片的接触电阻测量为$36.2m{\\Omega}$,相反,用ACA与Ni颗粒粘结的样品发生了电开,这归因于ACA中Ni颗粒的数量最少,从而形成了没有任何包复Ni颗粒的倒装芯片接头。
文章内容(英文)
Flip Chip Process on the Local Stiffness-variant Stretchable Substrate for Stretchable Electronic Packagesstretchable packaging;stretchable substrate;PDMS;FPCB;flip chip;contact resistance;A Si chip with the Cu/Au bumps of $100-{\\mu}m$ diameter was flip-chip bonded using different anisotropic conductive adhesives (ACAs) onto the local stiffness-variant stretchable substrate consisting of polydimethylsiloxane (PDMS) and flexible printed circuit board (FPCB). The average contact resistances of the flip-chip joints processed with ACAs containing different conductive particles were evaluated and compared. The specimen, which was flip-chip bonded using the ACA with Au-coated polymer balls as conductive particles, exhibited a contact resistance of $43.2m{\\Omega}$. The contact resistance of the Si chip, which was flip-chip processed with the ACA containing SnBi solder particles, was measured as $36.2m{\\Omega}$, On the contrary, an electric open occurred for the sample bonded using the ACA with Ni particles, which was attributed to the formation of flip-chip joints without any entrapped Ni particles because of the least amount of Ni particles in the ACA.
来源出处
Journal|[J]Journal of the Microelectronics and Packaging SocietyVolume 25, Issue 4. 2018. PP 155-161

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