通过降低软光刻中的界面结合力来制备高深宽比聚二甲基硅氧烷微结构
高深宽比聚二甲基硅氧烷( PDMS )微结构在脱模过程中与母体之间具有很强的界面结合力,因此其软光刻制备具有挑战性。本文提出了一种通过冷却降低界面结合力来制备高深宽比PDMS微结构的简单方法。研究了冷却工艺对Sylgard 184 PDMS的形貌、弹性性能和粘接性能的影响。发现PDMS表面形成皱纹,空冷过程使PDMS的杨氏模量增大。因此,与传统的烘箱冷却PDMS相比,空冷PDMS具有更低的附着力。这一结果可以用粘着参数理论来解释:PDMS表面形成的皱纹的高振幅和PDMS的高杨氏模量都增加了分离力,降低了界面的粘着力。该方法的应用是由具有不同长径比微结构的硅基底制备PDMS微通道。与烘箱冷却工艺得到的PDMS微通道相比,采用空冷工艺成功制备了深度为200μm、长径比为10的PDMS微通道。